详细介绍
原子力显微镜FM-Nanoview 1000AFM
一、主要特点
1.光机电一体化设计,外形结构简单;
2.扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强;
3.精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便;
4.采用精密探针定位模块,更换探针简单方便
5.采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描;
6.伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位;
7.高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域;
8.高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择;
9.带光学定位的CCD观察系统,实时观测与定位探针扫描样品区域
10.模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护;
11.集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。
12.弹簧悬挂式防震方式,简单实用,抗干扰能力强
二、友好的软件界面及操作功能
1. 可自由选择图像采样点为256×256或512×512
2. 多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图
3. 可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域
4. 可任意选择样品起始扫描角度
5. 激光光斑检测系统的实时调整功能
6. 可任意定义扫描图像的色板功能
7. 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能
8. 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正
9. 支持样品图片离线分析与处理功能
三、技术规格
名 称 | 参 数 | 名 称 | 参 数 |
工作模式 | 1. 接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力 | 扫描角度 | 任意 |
样品尺寸 | Φ≤90mm;H≤20mm | 样品移动范围 | 0~20mm |
*大扫描范围 | 横向20um,纵向2um | 马达趋近脉冲宽度 | 10±2m |
扫描分辨率 | 横向0.2nm,纵向0.05nm | 光学放大倍数 | 4X
|
扫描速率 | 0.6Hz~4.34Hz | 光学分辨率 | 2.5um |
扫描控制 | XY采用18-bit D/A Z采用16-bit D/A | 图像采样点 | 256×256,512×512 |
数据采样 | 14-bit A/D、双16-bit A/D 多路同步采样 | 反馈方式 | DSP数字反馈 |
计算机接口 | USB2.0 | 反馈采样速率 | 64.0KHz |
运行环境 | 运行于WindowsXP/7/8操作系统 |
上海彼爱姆(BM)光学仪器制造有限公司